應力雙折射儀是一種用于測量光線經過單軸晶體時的雙折射現象的儀器。其工作原理基于它們的物質學性質，即單軸晶體沿一個方向具有高度對稱性，沿其他兩個方向則沒有對稱性。這使得單軸晶體對于進入的光線在兩個反向傳播方向上表現出不同的折射率。例如，若將一束與晶體軸夾角相等的地面光投入樣品，其中一束光會同時沿著晶體軸和眾多不同的方位產生折射；而另一束僅縱向通過晶體。
由兩部分組成：樣品和偏振器(Polarizer)。一個固定的偏振器放在樣品前面，以控制作用在晶體上的光源偏振狀況。然后光通過樣品，被分離成兩束，其中一束是O光，按照規律沿著擬合自然方向的折射面的晶面(⊥光)、另一支是E光，沿著垂直折射面的晶面(∥光)。分離后兩束光會被小孔再次凝聚到一起，并由另一個偏振器檢測其強度。偏振器可以wheel控制以調整其方向，以使得樣品對于不同極軸之間的折射率差異變得顯而易見。將其放置在微調范圍內(通常為+/-20°)，從而測量雙折射(doublrrefraction)產生的相位延遲。
應力雙折射儀廣泛應用于材料科學、礦物學、晶體學和地質學中，以準確測量物質中的應力狀態并推斷物質結構、性質等信息。此外，在天文學和高能物理學領域，它還可以被用來識別施加在高度對稱晶體上的非常弱的應力，以及探究高能粒子與物質作用時的相關效應。
應力雙折射儀優點：
1.可以對單晶樣品進行大量測量并快速獲得彈性狀況信息；
2.測定結果具有重復性高、靈敏度高和抗干擾性好等特點；
3.能夠應用于多種場合下對各種PMMA進行非接觸、無損傷測試。
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