PCI共光路干涉弱吸收儀

簡要描述：PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內部產生熱波，從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應，當一束Probe beam(探測光)經過熱透鏡效應區域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發生畸變引起點衍射共路干涉，并產生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理。

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更新時間：2024-09-10
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PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：

PCI共光路干涉弱吸收儀

右圖，Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內部產生熱波，從而在樣品內部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應，當一束Probe beam(探測光)經過熱透鏡效應區域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發生畸變引起點衍射共路干涉，并產生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理，最后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。

特點：

精度高: 1 ppm
一次測量可以區分體、面吸收
掃描速度快（幾分鐘）
對樣品規格要求不高
操作方便、簡單

應用領域：

光學薄膜
光學晶體材料
光學鏡片

PCI共光路干涉弱吸收儀性能：

測量晶體（LBO、YVO4、KTP…）或光學產品（K9、BK7、UVFS…）內部材料的弱吸收（體吸收）
測量晶體或光學產品的表面吸收或薄膜吸收
PCI 指標說明

波長	常規355、532、1064nm，其它波長可定制
靈敏度	體吸收:1ppm/cm；面吸收:1ppm
樣品規格	方形、圓形均可最小尺寸（mm）：3x3x3；最大尺寸（mm）：50x50x50 其它尺寸可定制
測試速度	常規2min/片（相對6mm厚度）
區分體、面吸收	一次測量可以區分體、面吸收
軟件掃描功能	AbMat-1D: 一維逐點掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式	長度/面/時間掃描

1.光源	Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（imported with original packaging） -最大功率：2mw -功率穩定性：<0.1% -發散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束質量M2：<1.5 -功率穩定性：＜2%(超過5 小時) -偏振：隨機 -制冷方式：風冷 -偏振光系統
2.探測部分	imported with original packaging 含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調整架等。
3.載物臺部分	imported with original packaging 含三維步進電機、樣品支架等
4.光學元件部分	反射鏡、透鏡、功率調節器等
5.軟件部分	實時數據采集，自動保存，數據分析等。一維逐點掃描二維吸收立體掃描
6.其它說明	建議設備安裝在超凈間環境；建議配UPS電源。

測量結果及儀器實物圖

PCI共光路干涉弱吸收儀

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