OpTest®更專業(yè)的通用光學(xué)成像測量與評價(jià)系統(tǒng)：Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng)

無論您設(shè)計(jì)什么，都可以使用 OPTEST®系統(tǒng)進(jìn)行測量

OpTest鏡頭測量系統(tǒng)集成了光學(xué)和光機(jī)工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新。市場上的其他產(chǎn)品通常基于通用的現(xiàn)成實(shí)驗(yàn)室組件制造其系統(tǒng)，而Optikos解決方案的每一步都是量身定制的。OpTest系統(tǒng)由Optikos工程師專門為鏡頭測試設(shè)計(jì)的定制光學(xué)、機(jī)械和電子組件組成。

Optikos提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線。通過升級路徑和模塊，可擴(kuò)展OpTest的測試能力，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外線測試等測量。

量身定制，滿足您的需求

Optikos不僅根據(jù)您的即時(shí)需求構(gòu)建光學(xué)測試系統(tǒng)，還為您提供簡單的升級路徑，以適應(yīng)需求的化。Optikos 的解決方案為您提供了技術(shù)和經(jīng)濟(jì)雙重優(yōu)勢：隨著您的應(yīng)用或業(yè)務(wù)發(fā)展，系統(tǒng)不會過時(shí)；它足夠靈活，能夠滿足您現(xiàn)在和未來的需求。

在眾多產(chǎn)品中，選擇適合您需求的組件至關(guān)重要，這些組件將為您提供靈活性。在接下來的光學(xué)測試部分中，您將了解到一系列產(chǎn)品，它們可以協(xié)同工作，以滿足您的應(yīng)用需求。通過描述和圖示，我們將解釋每款產(chǎn)品如何用于構(gòu)建完整的系統(tǒng)。量系統(tǒng)提供的解決方案，每一步都是定制化的。OpTest®融合了光學(xué)和光機(jī)工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設(shè)計(jì)的定制光學(xué)元件、機(jī)械部件和電子元件組成，進(jìn)而提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線，并提供升級方案和模塊，可擴(kuò)展OpTest®計(jì)量功能，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外先測試等測量項(xiàng)目。

Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng)可構(gòu)建的光學(xué)系統(tǒng)測量方案

OpTest® 系統(tǒng)的模塊化組件，通過適當(dāng)?shù)呐渲每蛇m合測試大多數(shù)類型的鏡頭。 選擇和配置適合被測光學(xué)系統(tǒng)的模塊需要明確被測光學(xué)系統(tǒng)的使用方式，包括：

1.    物與像的共軛位置關(guān)系
2.    光譜范圍
3.    空間分辨率
4.    物與像的尺寸以及系統(tǒng)的視場大小
5.    瞳孔直徑、f/數(shù)（光圈值）、數(shù)值孔徑
6.    外觀尺寸和光學(xué)系統(tǒng)布局

1) 物像共軛位置：大多數(shù)光學(xué)系統(tǒng)可分為三類：

2)  光譜范圍：OpTest® 系統(tǒng)支持圖像分析儀，可以在從UV 到LWIR波長范圍內(nèi)工作。

3)  空間分辨率：由所有光學(xué)系統(tǒng)在成像能力上都受到空間分辨率的限制。其中一個(gè)基本限制源于光的波動性。當(dāng)光的波動性限制光學(xué)系統(tǒng)的性能時(shí)，系統(tǒng)具有“衍射極限"分辨率。光學(xué)系統(tǒng)的性能也可能受到系統(tǒng)設(shè)計(jì)或制造精度的限制。光學(xué)測試系統(tǒng)的分辨率必須遠(yuǎn)小于被測系統(tǒng)的分辨率。測試系統(tǒng)中的圖像分析儀還必須具有足夠的分辨率，以分析被測光學(xué)系統(tǒng)形成的圖像。

對于無限和有限共軛系統(tǒng)，空間分辨率以每毫米線對數(shù)（line-pairs per millimeter）表示。對于無焦系統(tǒng)，空間分辨率以每毫弧度周期數(shù)（cycles per milliradian）表示。

4）圖像和物體物體的大小及系統(tǒng)視場：測試系統(tǒng)必須能夠覆蓋被測系統(tǒng)在物方空間和像方空間的視場（FOV）。對于無限共軛系統(tǒng)，測試系統(tǒng)必須覆蓋物方空間的角視場以及全視場像高的線性尺寸。對于有限共軛測試，平移臺必須能夠覆蓋整個(gè)物高和像高，并設(shè)置所需的物距。對于測試無焦系統(tǒng)，需要跨越物方空間和像方空間的角視場。

5）光學(xué)直徑、F/數(shù)和數(shù)值孔徑：測試系統(tǒng)必須能夠在被測系統(tǒng)在物方空間覆蓋的被測系統(tǒng)的入瞳，并收集來自整個(gè)出瞳的光。對于被測的無限共軛和無焦系統(tǒng)，入瞳直徑設(shè)定了物方空間所需準(zhǔn)直光束的下限。像方空間的要求由無焦系統(tǒng)的出瞳直徑?jīng)Q定，而在測試無限或有限共軛系統(tǒng)時(shí)，光圈值(F/number)或數(shù)值孔徑(NA)是相關(guān)的。

6）外觀尺寸和系統(tǒng)布局：一個(gè)OpTest® 系統(tǒng)需要一個(gè)光學(xué)臺來放置系統(tǒng)組件，并采用折疊光路。被測光學(xué)系統(tǒng)可能體積龐大，或包含折疊光路及其它特殊的物理特性。OpTest® 系統(tǒng)要求該平臺上有中心距為
1英寸中的 ?"-20 螺紋孔 或中心距為25mm的M6螺紋孔。