歡迎訪問(wèn)北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司網(wǎng)站！歡迎訪問(wèn)北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司網(wǎng)站！
熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
咨詢(xún)熱線
18519585532
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)測(cè)量 > 光學(xué)檢測(cè) > 干涉儀
簡(jiǎn)要描述：干涉儀：非接觸式技術(shù)檢測(cè)拋光平面和球面的精度（功率、不規(guī)則度）；測(cè)試表面半徑；檢測(cè)目標(biāo)傳輸波前畸變（TWD)。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-05-17訪 問(wèn) 量：315
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category
掃碼關(guān)注
傳真：010-68214292
郵箱：gloria.yang@opcrown.com
地址：北京市門(mén)頭溝區(qū)蓮石湖西路98號(hào)院7號(hào)樓1006室
光學(xué)測(cè)量