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光學表面質量檢測系統是一款革命性的光學表面 質量檢測系統，具備高重復性和準確性。

非接觸式測厚儀采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。可單次測量多層膜，最高可測 20 層。

夏克哈特曼傳感器集合了干涉儀、光束分析儀、自準直儀及四象限探測器優點于一身，具有測量速度快、精度高、尺寸小巧的特點。

干涉儀：非接觸式技術檢測拋光平面和球面的精度（功率、不規則度）；測試表面半徑；檢測目標傳輸波前畸變（TWD)。

Optikos相機測試系統Meridian Starfield采用緊湊型高精度設計，適用于生產線末端相機測試，或在大批量生產中對相機組件進行主動校準。

Optikos OpTest®光學測量與測試系統融合了光學和光機工程領域的新技術與創新結果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學元件、機械部件和電子元件組成，進而提供全面的鏡頭測試產品線，并提供升級方案和模塊，可擴展OpTest®計量功能，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外先測試等測量項目。

LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀，靈活擴展的平臺能夠應對更廣泛的測量 (例如：MTF、EFL、畸變等) 。