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圓二色性測量系統使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管

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各向異性測量系統2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數據。

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Strokes 偏振計在光學元件表征、光學系統光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面有著廣泛的應用。

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雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業材料。

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雙折射（應力）測量系統 EXICOR-SYSTERMS，設計減去了光學系統中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。

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雙折射（應力）測量系統 EXICOR-PV-Si還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。

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激光能量計PRONTO-500-IPL系列：北京昊然偉業光電科技有限公司成立于 2010 年，專業代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學檢測設備，致力于為科研和工業客戶提供光學檢測解決方案及...

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激光能量計IS50系列：北京昊然偉業光電科技有限公司成立于 2010 年，專業代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學檢測設備，致力于為科研和工業客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后...

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激光能量計QE50-MT系列：北京昊然偉業光電科技有限公司成立于 2010 年，專業代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學檢測設備，致力于為科研和工業客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中...

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